高分辨電鏡
國標(北京)檢驗認證有限公司電鏡室,配備jem-2010高分辨電(dian)子(zi)顯微(wei)鏡,最(zui)高加速(su)電(dian)壓200kv,放大倍率范圍(wei)50倍~150萬倍,晶格分辨(bian)率為0.14nm。該電鏡配(pei)備gatan公司14位ccd數字成像系統,可實時采集數字圖像。該電鏡可以對金屬或陶瓷等體料、粉末、薄膜、納米材料、生物材料等進行微觀結構觀察、衍射分析、高分辨成像。
經過多年的經驗積累,在以下幾種材料的分析上具有豐富的經驗:(1)輕金(jin)屬結構材(cai)料(鋁(lv)合金(jin)、鎂(mei)合金(jin)及鈦合金(jin))的析(xi)出相及微觀(guan)缺陷分析(xi);(2)薄膜截面樣品各膜層結構分析(xi)(3)納米材料(如納米線、納米顆粒、納米片等)晶體結(jie)構(gou)、取向(xiang)、表面層(ceng)及(ji)內部(bu)結(jie)構(gou)分析。(4)磁性樣品(如鋼鐵(tie)及新型鐵(tie)磁形狀記憶合金(jin)等)的高分辨電(dian)子(zi)顯微分析(4)高分(fen)(fen)子微(wei)球(qiu)、金屬(shu)納米團簇等的粒徑分(fen)(fen)析;
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