太陽能級多晶硅檢測

國標（北京）檢驗認證有限公司從事多硅和化合物半導體材料檢測，可一次完成硅片厚度、總厚度變化、平整度、局部平整度、翹曲度、類型、電阻率的測試和分類，并可作圖；可進行硅拋光片和外延片的表面質量分析檢測，包括顆粒尺寸及數量的分類；劃傷、桔皮、凹坑等表面質量的檢查；利用x射線熒光光譜方法對硅拋光片和外延片的表面金屬進行非破壞性檢測；紅外氧碳測試儀是用(yong)紅外(wai)(wai)(wai)吸(xi)收法分別測定硅單晶中的間隙氧(yang)和替位碳(tan)含量，并可計算外(wai)(wai)(wai)延片的外(wai)(wai)(wai)延層厚度。

中心擁有美國thermo fisher公司最新型號的(de)element gd輝光(guang)放電質(zhi)譜儀（gdms），適用于金屬中ppb級及其以上含量(liang)的(de)雜(za)質(zhi)分析，可(ke)以檢測5n、6n高純鋁、銅、鋅、鎳、鈷、多晶硅中的(de)痕量(liang)和超痕量(liang)雜(za)質(zhi)元素(su)。

國標（北京）檢驗認證有限公司，是中國權威的第三方金屬檢測機構，實驗(yan)室(shi)通過iso 17025國(guo)家實驗(yan)室(shi)認(ren)可（cnas），中(zhong)國(guo)計量認(ren)證(zheng)（cma），國(guo)際航空材料認(ren)證(zheng)（nadcap），為客戶(hu)提供科學的產品檢測、評價方案，滿足(zu)進出(chu)口及工程檢測等各種需求。

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