一、 產品描述
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SuperView W1 1200光學3D表面輪(lun)廓儀是一款用于對各種精密器件表面進行亞納米級測量的檢測儀器。它是以白光干涉技術為原理、結合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對器件表面進行非接觸式掃描并建立表面3D圖像,通過系統軟件對器件表面3D圖像進行數據處理與分析,并獲取反映器件表面質量的2D、3D參數,從而實現器件表面形貌的3D測量的光學檢測儀器。
SuperView W1 1200光學3D表面(mian)(mian)(mian)(mian)輪(lun)廓儀只需(xu)操作者(zhe)裝好(hao)被測(ce)器(qi)件(jian)(jian),在軟件(jian)(jian)測(ce)量(liang)界面(mian)(mian)(mian)(mian)上設置好(hao)視場參數,調整鏡頭到(dao)接近器(qi)件(jian)(jian)表面(mian)(mian)(mian)(mian),選擇(ze)自(zi)動(dong)聚(ju)焦,儀器(qi)會對器(qi)件(jian)(jian)表面(mian)(mian)(mian)(mian)進行自(zi)動(dong)對焦并找到(dao)干(gan)(gan)涉條(tiao)紋(wen),調節好(hao)干(gan)(gan)涉條(tiao)紋(wen)寬(kuan)度后即可(ke)開(kai)始進行掃描測(ce)量(liang);掃描結束(shu)后,軟件(jian)(jian)分(fen)析界面(mian)(mian)(mian)(mian)自(zi)動(dong)生成器(qi)件(jian)(jian)3D圖(tu)像,操作者(zhe)可(ke)通過軟件(jian)(jian)對生成的3D形貌進行數據處(chu)理與分(fen)析,獲(huo)取表征器(qi)件(jian)(jian)表面(mian)(mian)(mian)(mian)線(xian)、面(mian)(mian)(mian)(mian)粗糙度和輪(lun)廓的2D、3D參數。
SuperView W1 1200 光(guang)學(xue)3D表(biao)面輪廓(kuo)儀采(cai)用光(guang)學(xue)非接觸(chu)式(shi)測(ce)量方(fang)法,它具(ju)有測(ce)量精度高(gao)、使用方(fang)便、分析功能(neng)強大(da)、測(ce)量參數齊全等(deng)優點,其(qi)獨特的光(guang)源模式(shi),保證了它能(neng)夠適用于從(cong)光(guang)滑到粗(cu)糙(cao)等(deng)各種精密器(qi)件的表(biao)面質量檢測(ce)。
系統(tong)軟(ruan)件(jian)為簡(jian)體中(zhong)文操作(zuo)系統(tong),操作(zuo)方便。
二、 產品功能
1.行業領域和應用對象
對各(ge)種產(chan)品、部件和材料表(biao)面(mian)(mian)的平面(mian)(mian)度(du)(du)、粗糙度(du)(du)、波(bo)紋度(du)(du)、面(mian)(mian)形輪廓(kuo)、表(biao)面(mian)(mian)缺(que)陷、磨損(sun)情況(kuang)(kuang)、腐(fu)蝕(shi)情況(kuang)(kuang)、孔隙間隙、臺階(jie)高度(du)(du)、彎曲變形情況(kuang)(kuang)、加工情況(kuang)(kuang)等(deng)表(biao)面(mian)(mian)形貌特(te)征進(jin)行測量(liang)和分析(xi)。
2.軟件功能
(1) 提供多(duo)種(zhong)數據處理方式。
提供校平(ping)、鏡像、旋轉(zhuan)等操(cao)作(zuo)調整圖像位置(zhi);
提供空間濾波(bo)、標準(zhun)濾波(bo)、閾值糾正、去除(chu)形(xing)狀、頻譜變換(huan)等濾波(bo)操作對數(shu)據進行修(xiu)正;
提(ti)供提(ti)取(qu)(qu)(qu)區域、提(ti)取(qu)(qu)(qu)剖面、抽取(qu)(qu)(qu)輪廓等操作獲取(qu)(qu)(qu)檢測區域。
(2) 提供多種分析工具。
提(ti)供(gong)距(ju)離、臺階(jie)高(gao)度等要素測量;
提供點、線、圓(yuan)弧、角度(du)(du)等特征測量,以及(ji)直線度(du)(du)、真(zhen)圓(yuan)度(du)(du)等形位(wei)公差(cha)評(ping)定,為用戶展現強大的輪廓分析(xi)功能(neng);
提供基(ji)于表(biao)面的紋(wen)理(li)分析,方便地觀察紋(wen)理(li)方向與紋(wen)理(li)均質性(xing);
提供圖形分(fen)(fen)(fen)析、島嶼(yu)分(fen)(fen)(fen)析、分(fen)(fen)(fen)形分(fen)(fen)(fen)析、頂點計(ji)數、孔的(de)體積(ji)等多(duo)種有針對性的(de)分(fen)(fen)(fen)析功能;
提供頻譜分析功能,可獲(huo)取(qu)幅(fu)度(du)和相位信息、平均功率譜密度(du)信息、自相關性等;
提供全面的線粗糙度、面粗糙度的參數分析功能;







